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      • X射線無損探傷
        

        
    
    
        X射線無損探傷是一種利用X射線穿透物體并通過檢測(cè)和分析所產(chǎn)生的X射線圖像來評(píng)估物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷的技術(shù)。它可以用于檢測(cè)材料中的裂紋、氣孔、夾雜物等缺陷，以及評(píng)估物體的完整性和質(zhì)量。
        
    
        
        
        
            
        更新時(shí)間：2023-09-14
        
            
        產(chǎn)品型號(hào)：
        
            
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